仪器简介

 HCDR-P平板导热系数测定仪基于单向稳定导热原理，当试样上、下两面处于不同的稳定温度下，测量通过试样有效传热面积的热流及试样两表面间温差和厚度，计算导热系数。其核心在于通过测量样品两侧的温度差、热流量以及样品的几何尺寸来计算导热系数。平板法导热系数仪是根据保护平板法测量原理，针对建筑保温材料、复合材料、多层材料、多孔材料设计的稳态法导热系数仪。平板法导热系数仪测量精度高、控温稳定性好，可自动加压测压、自动测厚，满足不同温度下的实验。‌‌

主要特点

u 全控温系统采用优化的动态PID算法，极大的规避了传统PID算法的缺点，提高了控温的稳定性。

u 功率平台采用均热结构工艺，有效的保证了表面温度的均匀性，受热效率更高。

u 样品槽具有一键操控功能，上位机和下位机均可实现槽内机械结构的自动操作，操控更加便捷。

u 仪器内置高精度激光测距传感器，具有自动测量样品厚度的功能，让测试更加精准高效。

u 仪器内置微型压力传感器，可以对样品进行精细化的加压测试，用来满足不同的测试压力需求。

u 具有友好的人机界面，仪器配有7寸LCD触控屏，可通过触控屏来控制整个测试系统，同时冷、热板温度以及样品压力、厚度等参数值可直观的由液晶屏观察显示。

u 软件具有双向通讯功能，软件上可以设置样品实验所需任何参数，即通过操作软件可完成整个实验过程，让实验更加智能。

u 仪器具有高度自动化的计算机数据通讯和智能分析处理系统，软件可以实时记录样品的实验数据，且结束后自动分析实验结果。

技术参数

参考标准

u GB/T 10294-2008绝热材料稳态热阻及有关特性的测定 防护热板法。